oscillatingcrystal method
简介
以单色X射线照射回摆着的晶体以获得衍射图样的方法.晶体的回摆角度范围一般为5°～20°，回摆通常绕晶胞的边长进行.
回摆法的实验配置与转晶法相似.入射线与回摆轴垂直，底片卷成圆柱面，柱轴与回摆轴重合.底片上的衍射点分布形成平行直线，这些直线叫层线.
根据层线间的距离，底片柱面的半径以及X射线的波长，可以算得回摆轴方向晶胞的边长.所以回摆法可用来测定晶胞参数.层线成为直线时表示回摆轴已与晶胞的一个边长平行，据此可以进行晶体定向.
回摆法相对于转晶法有两个优点：第一，因为回摆角较小，可以处在Ewald球面上的倒格点较少，衍射点一般不会重迭，指标化较易进行.第二，因为回摆角较小，相同的时间内同一倒格点与Ewald球相交的次数较多，所以得到同样黑度的衍射点只需较短的曝光时间.