云纹干涉法

在经典云纹法基础上发展起来的一种基于光学干涉原理的测试方法。主要用于物体面内二维位移的测量，具有波长量级的测试灵敏度。已制备在试件表面的高频光栅随试件的变形而变形，当两束准直光以某个相同的角度对称照明试件栅时，由光栅产生的衍射光波将发生干涉，得到反映试件表面位移信息的条纹图。